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THETIS™ 高分辨納米粒度儀 第一次實(shí)現(xiàn)了在一臺儀器中輕松測量膠體懸浮液中各向異性納米顆粒的長度和寬度，成為表征所有類型的納米顆粒（各向同性和各向異性）的通用和*大的工具，為納米顆粒的測量提供了*泛的應(yīng)用范圍。 通過去偏振動態(tài)光散射技術(shù)DDLS，可以檢測各向異性體系的旋轉(zhuǎn)擴(kuò)散系數(shù)，給出棒狀納米顆粒和纖維的長度、寬度和長寬比。

Amerigo高分辨納米粒度和zeta電位分析儀 l 結(jié)合Wallis和Vasco Kin的功能，具有高分辨測量能力 l 非接觸遠(yuǎn)程測量納米粒度的動力學(xué)分析 l zeta電位的可編程動力學(xué)實(shí)驗(yàn)（zeta 對 溫度/pH/時間）

動態(tài)光散射納米粒度儀,痕量納米顆粒分析儀 麥哲倫 MAGELLAN$nl*的測量納米顆粒大小和濃度分析（納米顆粒計數(shù)）技術(shù)$nl顆粒濃度痕量分析低至ppt級（ng/L）！$nl粒徑范圍：10nm至1μm，可在線流動測量

原位在線納米粒度儀,Vasco Kin原位時間分辨納米粒度分析儀$nl 粒度測量范圍 : 0.5nm 到 10µm$nl 背向動態(tài)光散射原理，實(shí)時遠(yuǎn)程非接觸測量$nl 監(jiān)測納米顆粒合成過程；監(jiān)測整個過程的粒度變化情況，有助于穩(wěn)定性研究$nl 全自動非接觸測量：能穿透玻璃和塑料針管，測定包裝物及反應(yīng)釜中的粒度分布和隨時間的變化

Vasco納米粒度分析儀 VASCO 顆粒粒度分析儀是基于增強(qiáng)型動態(tài)光散射（DLS）技術(shù)的納米級懸浮和膠體特性的儀器。得益于與法國Institute of Petroleum（IFP）合作開發(fā)的技術(shù)， VASCO是濃縮和不透明懸浮液樣品*的解決方案。