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THETIS™ 高分辨納米粒度儀 第一次實(shí)現(xiàn)了在一臺(tái)儀器中輕松測量膠體懸浮液中各向異性納米顆粒的長度和寬度，成為表征所有類型的納米顆粒（各向同性和各向異性）的通用和*大的工具，為納米顆粒的測量提供了*泛的應(yīng)用范圍。 通過去偏振動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)DDLS，可以檢測各向異性體系的旋轉(zhuǎn)擴(kuò)散系數(shù)，給出棒狀納米顆粒和纖維的長度、寬度和長寬比。

Amerigo高分辨納米粒度和zeta電位分析儀 l 結(jié)合Wallis和Vasco Kin的功能，具有高分辨測量能力 l 非接觸遠(yuǎn)程測量納米粒度的動(dòng)力學(xué)分析 l zeta電位的可編程動(dòng)力學(xué)實(shí)驗(yàn)（zeta 對 溫度/pH/時(shí)間）